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尝叠罢础款可调式制备器说明: 适用于对膜厚的细微差别进行评估的研究。它通过调节制备器上方的两个微分器,能上下方向调整下面的刮刀以控制间隙,即Z终涂层厚度。刮涂时以每, O 微米为单位调整刮刀的间隙。
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LBTKTQ-II可调式制备器说明: 适用于对膜厚的细微差别进行评估的研究。它通过调节制备器上方的两个微分器,能上下方向调整下面的刮刀以控制间隙,即Z终涂层厚度。刮涂时以每, O 微米为单位调整刮刀的间隙。
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尝叠罢可调式制备器说明: KTQ-II可调式制备器适用于对膜厚的细微差别进行评估的研究。它通过调节制备器上方的两个微分器,能上下方向调整下面的刮刀以控制间隙,即Z终涂层厚度。刮涂时以每, O 微米为单位调整刮刀的间隙。
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